테스트 비용 절감하는 반도체 개발·검증 솔루션 공개 예정
한국NI(www.ni.com/korea)는 오는 2월 4일부터 6일까지 서울 코엑스에서 개최되는 ‘세미콘 코리아 2015’에 참가해 테스트 비용을 절감할 수 있는 반도체 개발·검증·테스트·양산 통합 솔루션과 데모를 선보인다고 밝혔다.
반도체 테스트 비용을 절감할 수 있는 솔루션 중 하나인 STS(Semiconductor Test System)는 반도체 양산 환경에서 사용할 수 있으며 기존의 ATE 테스터보다 작은 작업 공간에서 사용 가능하며 전력 소모량과 유지보수 노력이 줄어들기 때문에 테스트 비용을 절약할 수 있다는 장점이 있다.
또한 비용 최적화된 고성능 테스트가 가능하기에 최근 이슈가 많은 RF 전력 증폭기(PA), 가속도계, 전력 관리 IC(PMIC) 등과 같은 RF/아날로그 중심 반도체의 RF 및 혼합 신호 테스트에 이상적이다. 또한 700V 이상의 고전압이 요구되는 모터 드라이버 IC를 디자인할 때 효율적인 고전력 PXI 테스터도 함께 전시 될 예정이다.
한편, 한국NI의 부스(코엑스 3층 D홀 5536)에서는 전문 애플리케이션 엔지니어의 데모 시연, 이벤트 및 제품 상담이 함께 진행될 예정이다.
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