썬마이크로시스템즈는 RFID 솔루션 및 센서의 호환성과 컴플라이언스 준수에 대한 테스트가 가능한 연구소를 설립했다. 썬의 ‘RFID 테스트 센터’와 환경 테스트 연구소인 ‘썬 어드밴스드 프로덕트 테스팅(APT)’을 통합한 것.

이를 통해 썬 RFID센터의 고객은 APT에서 과열, 충격, 습기, 진동, 고도 및 압력 등 환경적인 영향에 대해서도 테스트를 할 수 있게 됐다.

썬은 “이번 센터는 세계최초로 RFID솔루션의 환경적 압력 테스트와 상호운영성, 표준 컴플라이언스 테스팅을 동시에 실시 할 수 있도록 한 곳”이라고 설명했다.

그동안 펩시, 씨게이트, HP, 쿠어스 등이 APT에서 실험을 진행했으며 RFID 테스트 센터에서는 쿠어스, 굿이어 등 수천개의 고객사가 테스트를 실시한 바 있다.

썬의 RFID테스트센터를 총괄하고 있는 짐 델 로시(Jim Del Rossi )는 “썬의 RFID 테스트 센터는 고객이 상호성이 뛰어나고 업계 표준 및 의무를 준수하는 RFID 솔루션을 개발하는데 크게 기여해왔다”며 “썬의 RFID 테스트 센터 및 APT와의 통합을 통해 고객은 실생활에서 이용 가능하고 강력하며 어떤 환경에서도 견고함을 자랑하는 진보된 RFID솔루션을 개발 할 수 있을 것0” 라고 밝혔다. <김나연 기자>