버사테스트 V5500의 테스터퍼사이트(tester-per-site) 아키텍처와 프로그래밍 가능한 인터페이스 메트릭스(Programmable Interface Matrix) 옵션은 복합 메모리 유형(플래시, DRAM 및 SRAM)의 MCP를 단일 삽입(single-insertion) 테스트로 최적화한다. 프로그래밍 가능한 인터페이스 메트릭스가 지원되는 V5500은 테스트 헤드 당 16,384개의 핀을 가진다. V5500의 많은 핀 수는, 현재 320개의 NAND 디바이스를 테스트 할 수 있는 최첨단 핸들러를 완벽히 활용할 수 있도록 디자인됐으며, NOR디바이스와 MCP도 최대 256개의 디바이스를 동시에 측정할 수 있다.
한국애질런트 반도체 테스터 사업부 현준 상무는 “버사테스트 V5500은 16,384개의 핀을 도입했는데, 이는 다른 경쟁사보다 훨씬 많은 것입니다. V5500은 MCP를 많은 병렬과 단일 삽입(Single-Insertion) 테스트가 모두 가능하게 하므로 테스트 비용을 크게 절감합니다. 특히 메트릭스가 지원되는 이 새로운 솔루션은 업계에서, 3G 휴대폰과 다른 고급 소비자 가전 애플리케이션을 상용화하는 데 필수적인 복잡한 MCP 의 양산 적용을 현실화하는 주요 기술이다”라고 말했다.
애질런트의 버사테스트 메모리 테스트 제품은 웨이퍼와 패키지 테스트 모두에 대해 엔지니어링 개발에서부터 양산에 이르기까지 엔드 투 엔드 솔루션을 제공한다. 보다 자세한 정보는 www.agilent.com/see/memorytest에서 볼 수 있다. <장윤정 기자>
![[dataNet] 장윤정 기자](/image/newsroom/default-user.png)