테스트 중요 변수에 대한 별도 제어 및 모니터링 가능
[데이터넷] 반도체 및 전자부품 신뢰성 분석 기업 큐알티(대표 김영부, QRT)가 개발한 개별 DUT(Device Under Test) 관리 시스템인 내장형 IDMS(Individual DUT Management System)가 업계에서 주목을 받고 있다.
IDMS는 개별 DUT에 대한 온도, 전력제어 및 모니터링이 가능한 시스템으로 반도체 신뢰성 평가 중 문제가 발생된 시점, 위치 등에 대한 구체적인 정보를 얻어낼 수 있다. 개별 시료마다 독립적으로 일어날 수 있는 과다전류에 의한 열화현상을 조기에 파악할 수 있으며, 정확히 오류 발생 시점에 해당 개별 DUT 전원만을 차단할 수 있는 제어기능까지 갖추고 있다.
고객사가 의뢰한 반도체 신뢰성 평가에 대한 구체적인 테스트 로그 데이터를 제공함으로써 시험 결과에 대한 구체적인 분석을 할 수 있게 되는 핵심기술이다.
기존 신뢰성 평가는 시험보드에 인가되는 전압, 전류값은 측정할 수 있지만, 개별 시료에 인가되는 구체적인 상세 데이터 측정값이 필요했다. 이 점을 해결하기 위해 큐알티는 국내 최초로 RF출력, 소모전력, 온도 등의 중요 변수를 별도로 제어하거나 감시할 수 있는 IDMS를 개발해 상용화했다.
큐알티의 IDMS는 메모리, 시스템 반도체를 비롯한 대규모 직접회로(LSI)를 대상으로 전압과 벡터를 인가해 모니터링이 필요한 전 제품군에 적용이 가능하며 상세 로그를 실시간으로 관리할 수 있다. 더욱이 테스트 중 나타나는 열화현상에 대해 전체 보드 불량까지 연쇄적으로 확산되지 않도록 조기에 진압할 수 있어 테스트 중단 없이 시간과 비용을 절약할 수 있다.
큐알티 윤성조 선임연구원은 “큐알티의 IDMS 시스템을 활용한 모니터링 기술은 고집적, 고정밀 칩들의 신뢰성 문제가 중요해지는 추세에 맞춰 보다 구체적인 데이터를 제공하며, 반도체의 품질 향상에 기여할 것으로 기대한다”고 전했다.